TY  - BOOK
AU  - Rackwitz, Vanessa
PY  - 2012
DA  - 2012//
TI  - Instrumentelle Fundamentalparameter und ausgewählte Anwendungen der Mikrofokus-Röntgenfluoreszenzanalyse am Rasterelektronenmikroskop
T3  - BAM-Dissertationsreihe 81
PB  - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
CY  - Berlin
SN  - 9783981463446
LA  - German
N1  - Vanessa Rackwitz
ID  - 689371853
ER  -