TY  - BOOK
AU  - Klein, Clemens
PY  - 2008
DA  - 2008//
TI  - Photometrische Untersuchungen im sichtbaren und NIR-Bereich zum hochempfindlichen Nachweis der Verschmutzung und Abwitterung von Fassaden
AB  - In dieser Arbeit wurde die Brauchbarkeit der Spektrometrie im sichtbaren Bereich und im nahen Infrarot-Bereich zum vergleichenden Nachweis der durch Abwitterung, Alterung oder Verschmutzung auftretenden Veränderungen an der Beschichtung von Wärmeverbundsystemen untersucht. Dazu wurde eine Reihe von definiert bewitterten Proben, die an der Hochschule Wismar und an der Hochschule Neubrandenburg hergestellt wurden, betrachtet. An diesen Proben wurden analytische Untersuchungen mit einem kombinierten VIS-NIR-Spektrometer durchgeführt, indem Reflexionsspektren der Oberflächen im sichtbaren und nahen Infrarot-Bereich gemessen wurden. Als Referenzverfahren zur Oberflächencharakterisierung wurden visuelle Begutachtungen und daneben die Lichtmikroskopie und die Rasterelektronenmikroskopie eingesetzt. Für die Aufnahme von Reflexionspektren wurde ein Programm entwickelt, das die Spektralanalyse vereinfacht. Dabei können Reflexionsspektren gemessen und in Datendateien gespeichert und wieder ausgelesen werden. Die erstellten Datendateien können aufgrund des Formates auch in anderen, für die Analyse notwendigen, Anwendungen eingelesen werden. Die Spektralanalyse erfolgte dabei in Voruntersuchungen anhand von visuellen Begutachtungen, der Einteilung nach Farborten und aufgrund einer Hauptkomponentenanalyse. Die Hauptkomponentenanalyse ist eine Methode der multivariaten Statistik. Mit dieser Methode ist es möglich, bei Reflexionsspektren die Ähnlichkeiten graphisch darzustellen und die für die Gruppenbildung maßgebenden Wellenlängen zu bestimmen.
LA  - German
N1  - Clemens Klein
ID  - 585929106
ER  -