%0 Book
%T Instrumentelle Fundamentalparameter und ausgewählte Anwendungen der Mikrofokus-Röntgenfluoreszenzanalyse am Rasterelektronenmikroskop
%A Rackwitz, Vanessa
%S BAM-Dissertationsreihe 81
%D 2012
%I Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
%C Berlin
%@ 9783981463446
%G German
%F 689371853
%O Vanessa Rackwitz
%O Zugl.: Berlin, Humboldt-Univ., Diss., 2012
%L 530
%9 theses
%9 Text
%9 Hochschulschrift