%0 Book
%T Entwicklung eines Hochfrequenz-Rasterkraftmikroskop-Testsystems für die Untersuchung von Hochfrequenzbauelementen und -schaltungen
%A Leyk, Andreas
%S Fortschritt-Berichte VDI 694
%D 1998
%7 Als Ms. gedr.
%I VDI-Verl.
%C Düsseldorf
%@ 3183694085
%G German
%F 271966424
%O Andreas Leyk
%O Zugl.: Duisburg, Univ.-Gesamthochsch., Diss., 1998
%O Archivierung prüfen 20200919 DE-640 2 pdager
%L 37
%9 theses
%9 Text
%9 Hochschulschrift