@Book{585929106,
author="Klein, Clemens",
title="Photometrische Untersuchungen im sichtbaren und NIR-Bereich zum hochempfindlichen Nachweis der Verschmutzung und Abwitterung von Fassaden",
year="2008",
abstract="In dieser Arbeit wurde die Brauchbarkeit der Spektrometrie im sichtbaren Bereich und im nahen Infrarot-Bereich zum vergleichenden Nachweis der durch Abwitterung, Alterung oder Verschmutzung auftretenden Ver{\"a}nderungen an der Beschichtung von W{\"a}rmeverbundsystemen untersucht. Dazu wurde eine Reihe von definiert bewitterten Proben, die an der Hochschule Wismar und an der Hochschule Neubrandenburg hergestellt wurden, betrachtet. An diesen Proben wurden analytische Untersuchungen mit einem kombinierten VIS-NIR-Spektrometer durchgef{\"u}hrt, indem Reflexionsspektren der Oberfl{\"a}chen im sichtbaren und nahen Infrarot-Bereich gemessen wurden. Als Referenzverfahren zur Oberfl{\"a}chencharakterisierung wurden visuelle Begutachtungen und daneben die Lichtmikroskopie und die Rasterelektronenmikroskopie eingesetzt. F{\"u}r die Aufnahme von Reflexionspektren wurde ein Programm entwickelt, das die Spektralanalyse vereinfacht. Dabei k{\"o}nnen Reflexionsspektren gemessen und in Datendateien gespeichert und wieder ausgelesen werden. Die erstellten Datendateien k{\"o}nnen aufgrund des Formates auch in anderen, f{\"u}r die Analyse notwendigen, Anwendungen eingelesen werden. Die Spektralanalyse erfolgte dabei in Voruntersuchungen anhand von visuellen Begutachtungen, der Einteilung nach Farborten und aufgrund einer Hauptkomponentenanalyse. Die Hauptkomponentenanalyse ist eine Methode der multivariaten Statistik. Mit dieser Methode ist es m{\"o}glich, bei Reflexionsspektren die {\"A}hnlichkeiten graphisch darzustellen und die f{\"u}r die Gruppenbildung ma{\ss}gebenden Wellenl{\"a}ngen zu bestimmen.",
note="Clemens Klein",
note="HS, Fachbereich Landschaftsarchitektur, Geoinformatik, Geod{\"a}sie, Bauingenieurwesen, Diplomarbeit, 2008",
language="German"
}