@Book{817992502,
author="S{\"a}mrow, Hagen",
title="Ma{\ss}nahmen zur Steigerung der Zuverl{\"a}ssigkeit integrierter Schaltungen auf Gatterebene hinsichtlich Gateoxiddefekten",
year="2013",
abstract="Die fortschreitende Skalierung f{\"u}hrt zur Verbesserung dynamischer Parameter einer integrierten Schaltung, aber auch zu Verschlei{\ss}erscheinungen, die die Lebensdauer dieser Schaltungen allein durch den Betrieb signifikant begrenzen. Die vorliegende Arbeit stellt neue Ans{\"a}tze auf Gatterebene zur Erh{\"o}hung der Zuverl{\"a}ssigkeit f{\"u}r kombinatorische integrierte Schaltungen hinsichtlich Gateoxiddefekten vor, die sich in einen standardisierten CMOS-Designablauf integrieren lassen. Des Weiteren befasst sich diese Arbeit mit der Entwicklung eines Simulators zur Analyse der Auswirkungen von Gateoxiddefekten.",
note="vorgelegt von Hagen S{\"a}mrow",
note="Rostock, Univ., Fak. f{\"u}r Informatik und Elektrotechnik, Diss., 2014",
url="http://rosdok.uni-rostock.de/resolve?urn=urn:nbn:de:gbv:28-diss2015-0029-6",
url="http://rosdok.uni-rostock.de/resolve?urn=urn:nbn:de:gbv:28-diss2015-0029-6&pdf",
url="http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:28-diss2015-0029-6",
language="German"
}